3光子W状態を一度で測る実験結果

光回路でW状態を87％の確率で識別

ScienceAlertによると、京都大学と広島大学の物理学者らは、干渉計として働く光学装置を使って3光子W状態の量子もつれを測定した。
記事は、平均測定識別忠実度（MDF）が0.871 ± 0.039で、W状態を87％の確率で正しく識別したとしている。

記事によれば、多粒子のGHZ状態は測定できていた一方、W状態のもつれ測定は実験で実証されていなかった。

研究チームは、独自の離散フーリエ変換（DFT）光回路を用い、量子トモグラフィーのように多数回の測定から状態を再構成する代わりに、3光子のW状態を一回の測定で判定したとされる。

記事によれば、W状態はGHZ状態と異なり、もつれた粒子の1つを失っても、残りの粒子間に有用なもつれが残る。
研究者らは、この結果を光子を用いる量子計算、量子通信、センシングのための多粒子測定に向けた一歩と位置づけている。