X線ライトシート顕微鏡でナノメートル精度の3次元位置決定を実演

薄いX線の断面を重ねて位置を決定

理化学研究所の研究者らによる国際共同研究グループは、SPring-8のX線ライトシート顕微鏡を使い、短時間露光で放射線損傷の影響を抑えながら、非破壊計測データから微粒子マーカーの3次元位置を求めたと発表した。
シリカ球を用いた検証では、面内方向7nm、深さ方向2nmの位置決定精度を得たとしている。
ハムスター卵巣細胞内でも、10nmのマーカーの3次元分布を大気中で非破壊に観察したとされる。

発表によると、従来の3次元局在型超解像蛍光顕微鏡では、近接する信号の重なりを避けるため蛍光を点滅制御しており、撮影時間が長くなることがある。

研究グループによると、薄いX線ライトシートで発光マーカーを空間的に分離し、点滅を必要としないシンチレーター微粒子を使った短時間露光の3次元超解像イメージングを実演した。

X線ライトシートは、非常に薄い面だけのマーカーを発光させるため、蛍光を時間的に点滅させずに信号の重なりを抑えるという。
研究グループは、細胞内部や工業製品の3次元構造の非破壊観察への応用を期待しているが、用途拡大は今後の検証段階にある。