初期プラズマが数ナノメートル増大、レーザー吸収は約4分の1に低下との結果

単発X線パルスの回折信号を同時計測

国際研究グループは、単発X線パルスで構造体に生じる超小角から広角までの回折信号を、カメラ1台で同時計測する手法を開発したと報告した。
X線自由電子レーザーと組み合わせ、ピコ秒で進行する高エネルギー密度プラズマの膨張速度を、ナノメートルからサブマイクロメートルの空間スケールで導出したとしている。

実験と数値シミュレーションの比較では、レーザー吸収が初期表面プラズマの大きさに強く依存することが示されたという。

報告された実験と数値シミュレーションの比較以外に、同じ条件でのより広い前後比較の基準は示されていない。

報告された実験・数値シミュレーションでは、固体表面の初期プラズマの大きさが数ナノメートル増えるだけで、微細構造固体へのレーザー吸収効率が約4分の1に低下したとされる。

初期構造のわずかな差が吸収に影響

ナノメートルからサブマイクロメートルにまたがる構造と、レーザーと固体の相互作用の大きな変化を、報告された実験条件の中で結び付けた点に意義がある。
実用上の用途や便益が示されたわけではない。